李桢熙.X射线能谱分析中谱线重叠问题[J].地质与勘探,1987,(11): |
X射线能谱分析中谱线重叠问题 |
|
|
DOI: |
中文关键词: |
英文关键词: |
基金项目: |
李桢熙 |
吉林省地质科学研究院 |
摘要点击次数: 1516 |
全文下载次数: 1322 |
中文摘要: |
扫描电子显微镜上配接Si(Li)探测器X射线能谱仪,进行地质样品分析时,由于它的峰,背比值较低和谱线分辨率不如X射线波谱仪,尽管探测效率很高,仍然存在谱线的干扰或重叠现象。谱线的干扰或重叠现象主要划分为三个类型:相邻或相近元素同一线系(K、L、M)的谱线之间重叠;原子序数较低的K线系谱线与原子序数较高的L线系谱线之间的重叠;原子序数较低的K线系谱线与原子序数高的L线系谱线以及原子序数高的M线系谱线之间的重叠。为了保证X射线能谱分析中定性分析的准确性,本文介绍了辨认和处理干扰或重叠谱线的技巧。 |
英文摘要: |
|
查看全文
查看/发表评论 下载PDF阅读器 |
关闭 |
|
|
|