| 王静纯,冯建良.MPV型显微镜光度仪使用的若干问题[J].地质与勘探,1984,(1): |
| MPV型显微镜光度仪使用的若干问题 |
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| 王静纯 冯建良 |
冶金部北京冶金地质研究所
(王静纯)
，冶金部北京冶金地质研究所(冯建良)
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| 中文摘要: |
| MPV型显微镜光度仪是利用光电效应测定样品反射率、透射率、折光率等多项光学常数的仪器.由于采用了不同波长的单色光,以及测量光阑与视域光阑联合使用,从而提高了测量精度.为保证测量值的准确性,减少或避免可能产生的误差,必须对仪器调节和操作过程中的关键环节给予足够重视.本文简要介绍该仪器的使用要点及注意事项. 仪器间条件仪器须置于干燥、恒温环境,以湿度小于70%、温度18～25℃为宜.因为光电流对震动极敏感,仪器须放在稳固的平台上.为确保输入电压严格稳定,须外接稳压器. |
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