| 魏明秀.CFX—Ⅰ型弯晶X射线光谱仪[J].地质与勘探,1978,(4): |
| CFX—Ⅰ型弯晶X射线光谱仪 |
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| 魏明秀 |
| 桂林冶金地质研究所岩矿室 |
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| 中文摘要: |
| X射线荧光光谱仪,作为快速定量测定多元素的大型精密分析仪器,在有关科研和生产部门已得到较广泛的应用。但是,过去这项仪器的制造技术,为少数国家所垄断。近年来,我国已有少数单位在技术上有所突破,完成了个别样机的研制,不过一时尚难满足全国的需要。我所本着自力更生的方针,在钢铁研究院和丹东仪器厂等兄弟单位的支援下,苦战三年多,现已制成CFX—Ⅰ型弯晶X射线荧光光谱仪(简称X光谱仪),解决了当前测定工作的急需。现将该仪器的原理、结构、性能、使用情况等简述如后。 |
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